高低溫交變上海高低溫老化試驗箱

    設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。本試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

溫度范圍 

A型: 0℃～+100℃（+150℃）

B型: -20℃～+100℃（+150℃）

C型: -40℃～+100℃（+150℃）

D型: -70℃～+100℃（+150℃）  

型號        工作室尺寸 （cm）

TH-408      W60×D80×H85   

TH-800      W80×D100×H100

TH-225      W50×D60×H75  

TH-1500     W100×D150×H100 

TH-1000     W100×D100×H100   

TH-150      W50×D50×H60   

技術(shù)參數(shù)：

波動度：±0.5℃ 

均勻度：±2℃ 

升溫速率：3.0℃/min   （ 可按客戶要求定做） 

降溫速率：0.7～1℃/min    （可按客戶要求定做） 

設(shè)備符合標準：

GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備

GB 10589 低溫試驗箱技術(shù)條件

GB 10592 高低溫試驗箱技術(shù)條件

GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法

GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法

GB 11158 高溫試驗箱技術(shù)條件

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則

公司具有良好的市場信譽，專業(yè)的銷售和技術(shù)服務(wù)團隊，憑著經(jīng)營高低溫循環(huán)試驗箱系列多年經(jīng)驗，熟悉并了解高低溫循環(huán)試驗箱系列市場行情，迎得了國內(nèi)外廠商的*好評，來涵洽談交流！

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